Pan-sharpening via deep metric learning / Yinghui Xing in ISPRS Journal of photogrammetry and remote sensing, vol 145 - part A (November 2018)
[article]
[article]
|
Exemplaires(3)
Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité |
---|---|---|---|---|---|
081-2018111 | RAB | Revue | Centre de documentation | En réserve L003 | Disponible |
081-2018113 | DEP-EXM | Revue | LASTIG | Dépôt en unité | Exclu du prêt |
081-2018112 | DEP-EAF | Revue | Nancy | Dépôt en unité | Exclu du prêt |